XRD-XRF集成分析儀(AL-Y3500xrdf型)

AL-Y3500xrdf型儀器是一種結合X射線衍射技術（XRD）和X射線光譜技術（EDS）的高端分析儀器，主要用于材料的元素成分分析和結構表征。通過一次測量，可同步獲取材料的元素組成、晶體結構、物相組成、晶粒尺寸等關鍵信息，廣泛應用于材料科學、地質學、物理學、化學、生物學、半導體、催化劑表征、金屬都城分析、納米技術等領域。

●高效集成：一次測量可同時獲得衍射與光譜數(shù)據(jù)，避免傳統(tǒng)分步測量的耗時與誤差。

●高靈敏度與精度：采用先進探測器與算法，檢測限低至ppm級，結構解析精度達原子級別。

●多功能拓展：各種功能附件滿足不同測試目的需要支持多種樣品形態(tài)（粉末、塊狀、薄膜等），適配高溫、低溫、高壓等特殊環(huán)境測試高穩(wěn)定性的X射線發(fā)生器控制系統(tǒng)，得到更穩(wěn)定的重復測量精度。

●硬件集成：共享X射線源、樣品臺及控制系統(tǒng)，保證兩種技術的光路同步與信號匹配。

●數(shù)據(jù)融合：通過專用軟件對衍射圖譜與光譜數(shù)據(jù)進行聯(lián)合解析，結合X射線衍射（XRD）的晶體結構信息與X射線熒光光譜（XRF）的元素組成數(shù)據(jù)，實現(xiàn)物質的全維度表征。

●未知樣品中一種和多種物相鑒定，可以同時分析40種元素。

●采用多準直器、索拉狹縫系統(tǒng)，具有自主知識產(chǎn)權專利技術。

●晶體結構解析(Rietveld結構分析)、軟件內包含基本參數(shù)發(fā)，經(jīng)驗系數(shù)法等。

●非常規(guī)條件下晶體結構變化(高溫、低溫條件下)，可以搭載多種樣品臺。

●薄膜樣品分析，包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度，電荷密度。

●微區(qū)樣品的分析、金屬材料織構、應力分析。